| 仪器名称 | 集成电路高温动态老化系统 | 仪器型号 | BTI-E3000AT/3 |
| 仪器编号 | 13-118504-01093 | 仪器来源 | 国产 |
| 生产厂商 | 杭州中安电子有限公司 | 启用日期 | 2012-12-13 |
| 仪器类别 | 反偏/老炼 | 仪器原值 | 370000.0 元 |
| 所在部门单位 | 质量可靠性实验室 | ||
| 仪器负责人 | 杜磊 | 联系电话 | 010-52804252 |
| 地址 | 怀柔园区4号楼D0605 | 邮编 | 100190 |
| dulei@nssc.ac.cn | |||
| 主要技术指标 | 150℃试验温度，最大64路，信号频率2Mhz，程控电源2-18V/10A | ||
| 包含主要附件 | 老化板 | ||
| 仪器主要功能 | 集成电路的高温动态老炼实验 | ||
| 仪器服务领域 | 元器件检测 | ||
| 计量认证资质 | 实验室认可 | ||
| 仪器现状 | 完好 | ||
| 收费标准 | 12元/小时 | ||
| 仪器图片 |
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