| 仪器名称 | 紫外测试采集系统 | 仪器型号 | 非标 |
| 仪器编号 | 17-110500-00325 | 仪器来源 | 研制 |
| 生产厂商 | 北京理工大学 | 启用日期 | 2016年 |
| 仪器类别 | 航天 | 仪器原值 | 1290000 元 |
| 所在部门单位 | 空间环境探测研究室 | ||
| 仪器负责人 | 龙尧 | 联系电话 | 62582635 |
| 地址 | 怀柔园区4号楼D0106 | 邮编 | 101400 |
| longyao@nssc.ac.cn | |||
| 主要技术指标 | 1紫外平行光管：
焦距：≥1500mm 口径：≥Φ150mm 波段：300nm~780nm(长波可超过780nm) 光源：150W氙灯 平行性：10’以内 分划板：带分辨率板。 2 采集控制系统 每通道16位同步采样速率4 MS/s； 100MHz以内的任意波形； 能对1553B总线进行监控和测试； 与RS485和RS232设备达3 Mbit/s的高速通信 LabView软件 |
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| 包含主要附件 | A、紫外平行光管的附件主要有：
1、全套分划板 2、镜管支架 3、电源 4、照明光源 B、采集控制系统的主要附件有： 1、PXIe-6124多功能同步采样卡 2、PXIe-5442任意波形发生器 3、PXI-8433/4 RS422/485接口卡 4、PXI-C1553-3U-M1-EF 1553B通信接口卡 5、NI PXIe-1082 8槽3U PXI Express机箱 6、NI PXIe-8135 2.3 GHz四核PXI Express控制器 7、极紫外望远镜头 |
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| 仪器主要功能 | 本系统主要是用于所研制的探测器整机大视场、高空间分辨率、成像质量测试和高灵敏度等方面的性能测试，并具备对CCD的线性度和像素不均匀性测试，以及CCD系统电子学系统测试和定标等部件级的测试功能。 | ||
| 仪器服务领域 | 航天 | ||
| 计量认证资质 | 实验室认可 | ||
| 仪器现状 | 完好 | ||
| 收费标准 | 1500 元/小时 | ||
| 仪器图片 |
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