低能粒子束流分布精确测量装置

1. 设备全景图片

2.设备概况

品牌：BoentDek

型号：DLD80

类型：MCP延迟线型探测器

用途：束斑均匀度测量【测量能量为100eV~30keV，束斑直径80mm的粒子束的截面分布】

3. 设备功能简述

低能粒子束流分布精确测量装置具有如下功能：

           i.              能够对能量可调范围内100eV~30keV束斑直径为80mm的低能电子束流的分布进行精确地测量，包括束流的均匀度和半散角的精确测量；

          ii.              能够对上述低能电子束流精确测量的实验数据进行快速分析处理；

        iii.              能够对上述低能电子束流数据分析结果进行图像显示；

        iv.              能够对用于定标测试试验的低能电子束流进行束流品质的综合评价，给出定标测试试验束流品质的依据；

          v.              能够对能量可调范围内200eV~30keV束斑直径为80mm的低能离子束流的分布进行精确地测量，包括束流的均匀度和半散角的精确测量；

        vi.              能够对上述低能离子束流精确测量的实验数据进行快速分析处理；

       vii.              能够对上述低能离子束流数据分析结果进行图像显示；

     viii.              能够对用于定标测试试验的低能离子束流进行束流品质的综合评价，给出定标测试试验束流品质的依据；

4. 设备的技术特点

           i.              MCP延迟线型探测器是一款具有高分辨率的2维计数成像装置，可以对带电粒子和光子在很高速率下进行位置分辨成像。

          ii.              该装置（DLD80）的有效线性区域直径至少有80mm。

        iii.              探测器由一对V型安装的MCP板和螺旋型的延迟线阳极组成，用于实现2维的粒子位置精确定位。

        iv.              两块MCP板由一对部分分隔的陶瓷环支撑，在MCP下方是一块2维的位置灵敏延迟线阳极。

5. 设备的技术参数

5.1典型参数：

位置分辨率：             <0.1mm；

整体线性度：             0.2mm；

响应速率：                 1MHz；

测量间隔时间：         10—20ns；

5.2探测器物理参数

安装法兰：                 CF150；

测量面到法兰距离： 100mm（可调）；

装配尺寸：                 144mm；

烘烤温度：                 最高150^oC；

5.3探测器电气参数

（2片MCP）

电子增益@2400V：    至少1×10⁷倍*

使用电压：                 2400V*

6. 设备的技术优势

MCP延迟线型探测器具有对入射粒子进行单个定位分辨的能力，可以精确测量低能量下（<10⁴cm^-2s^-1）的粒子束的均匀度。用MCP延迟线型探测器可以测量用常规手段无法测量的极弱流强束流，对低能粒子定标系统束流品质的测量有十分重要的意义。

7. 设备的应用行业

         加速器、离子源、电子源、太空探测、探测器定标、光学成像等。