星用介质材料深层充电参数测量实验平台

1. 设备全景图片

2.设备概况

型号：非标

组成：真空系统、温控系统、电子枪、参数测试系统

用途：测量星用介质材料电导率

3. 设备功能简述

    星用介质材料深层充电特征参数测量实验平台采用电子枪作为模拟源，具备高真空和长时间模拟试验能力，可以为航天材料提供准确充电评估。主要用于测量介质材料的电导率及其温度和辐照特性，可以多样品批量测量，采用真空条件下的“电荷存储—衰减法”，提高实验效率。

4. 设备的技术特点

采用真空条件下的“电荷贮存-衰减法”测量介质电导率

l   克服传统工业方法（ASTM D-257-9）介质电导率测量结果不能正确反应空间应用情况的弱点

l   真空系统可长时间维持10^-4Pa量级的真空度

支持多样品批量测量，提高试验效率

l   旋转靶台提供12个工位，一次性最多可放入12块样品

l   通过伺服电机控制靶台旋转，使不同工位的样品在辐照状态、待辐照状态或测量状态之间切换

高精度温控

l   温控范围-50℃至+100℃，温控精度±0.5℃

l   导热介质无需更换，温控精度高，安全性好，使用寿命长

l   快速响应温度变化，提高工作效率

使用电子枪对样品材料进行充电（电荷注入）

l   由电子发射枪（包括电子束的发射、加速、聚焦等部件）、高压电源、高压电源控制和电子枪控制等几个部分组成

l   提供单能电子，5至50keV连续可调，束流总强度约100A

对样品表面电位进行非接触式测量

l   使用Trek341B型高压静电电位计，对样品表面电位进行非接触式感应测量

l   测量范围0V到20kV，满量程精度达到0.1%，反应时间小于250s

5. 设备的技术参数

(a)真空系统：真空度≤8.010^-5Pa，可满足12个样品同时试验

(b)温控系统：真温控范围-60℃至+120℃，温控精度±0.5℃

(c) 电子枪：提供单能电子，能量5至50keV连续可调，束流总强度≥112A（单位面积束流强度0.1～10nA/cm2，束流不均匀性≤10%）

(d) 静电电位计：真空条件下非接触测量，量程0至±20kV，分辨率1V

(e) 真空室电气接口：真空室有多个电气接口法兰可用，包括高压接口、多芯航空接口、SMA/BNC接口等，还可根据用户要求加工法兰接口。

6. 设备的技术优势

    采用电子枪作为模拟源，具备高真空和长时间模拟试验能力，可以为航天材料提供准确充电评估。采用真空条件下的“电荷存储—衰减法”测量介质材料的电导率及温度和辐照特性，可以多样品批量测量，提高实验效率。

7. 设备的应用行业

航天介质材料充电效应评估，介质材料电导率测量及其温度和辐照特性研究