键合及芯片剪切力测试仪

1. 设备全景图片

2.设备概况

品牌： Nordson Dage/英国

型号： 4000 PLUS

类型：拉力、剪切力测试仪

用途：用于DPA、失效分析以及结构分析中对元器件内部键合丝强度及半导体芯片和元件粘接强度进行测试，进而对元器件工艺质量作出判定。

3. 设备功能简述

键合及芯片剪切力测试仪用于电子元器件内部键合丝焊接强度及芯片粘接强度测试。键合强度测试通过在传感器上安装特定尺寸的钩子勾住键合丝并施加垂直于基板的拉力，测量键合丝断裂时力的大小，也可以设定拉力值对键合丝强度进行非破坏性测试，从而对器件内部键合质量作出综合判定。

剪切强度测试通过安装在传感器上特定尺寸的推刀对芯片施加平行于基板的剪切力，测量将芯片剪切下来时力的大小，从而对芯片粘接质量进行判定。

键合及剪切强度测试仪可以通过更换不同类型传感器分别实现键合强度测试及剪切强度测试，且通过配套软件可以实现测试数据的高效整理，也可对实验结果自动判定。

4. 设备的技术特点

4.1测量精度高：设备精度最高、性能可靠，电子称精度为0.01%，全系统精度为0.1%所选量程，支持自动校准及线性检查。

4.2 使用操作最便捷：传感器更换无需工具且快速识别，样品测试速度快，大量节省操作时间。 

5. 设备的技术参数

5.1 尺寸及重量：设备投影尺寸630mm×660mm，高度830mm，总质量85kg

5.2整机参数：

全系统精度：电子秤所选分量程的0.1%；

拉力量程范围：10g~1kg；

剪切力量程范围：2g~50kg；

6. 设备的技术优势

该设备测量精度高，性能稳定，操作方便快捷，实验准备时间短，能够迅速进入试验流程。

7. 设备的应用行业

适用于半导体生产厂家、各军工研究所及元器件质量保证机构进行工艺、质量控制以及失效分析等工作。