1.设备全景图片
2.设备概况
品牌:杭州中安
型号:BTW-E558S
类型:微波器件老化设备
用途:用于微波器件的动态老化。
3.设备功能简述
微波器件射频动态老化系统是面向微波功率器件、微波开关、滤波器等产品的可靠性测试设备,核心功能是模拟器件实际工作环境,在施加射频激励信号与电应力的条件下,开展长时间动态老化试验,验证器件在额定或极限工况下的稳定性与寿命,为工程型号用微波器件的筛选、验收及可靠性评估提供数据支撑。
4.设备的技术特点
微波器件射频动态老化系统用于太赫兹器件的老炼和寿命试验,该系统适用于注入信号频率10MHz~1.5GHz(频率最小间隔10MHz)的小功率(耗散功率≤20mW)的微波器件/组件的连续波或脉冲信号的高温动态老化试验。系统经过分布式参数设计,提供8路独立电源,并能对每个工位进行回检,实时对太赫兹组件的老炼状况进行监视。通过对太赫兹器件进行高温老炼,可以剔出早期失效的产品。极早的暴露太赫兹组件的潜在缺陷和质量缺陷。
5.设备的技术参数
16个老练通道;
96个老炼工位,每工位独立监控
输出电压0~30.0V输出电流0~20.0A
温箱温度范围:室温~175℃
5.1.整机参数:
测量范围:10-14-10-9 S/m
分辨率:10-15 S/m
通讯方式:RS422差分
数据率:10Mbs
工作温度:-60°C~+50°C
6.设备的技术优势
该设备可以将电应力、温度应力、微波信号集成一体,可以满足20mW以下的微波器件的老化功率需求更方便,还可以为器件提供30V以内的正负双路供电。
7.设备的应用行业
微波器件老化。