仪器名称 | 集成电路高温动态老化系统 | 仪器型号 | BTI-E3000AT/1 |
仪器编号 | 11-118504-02028 | 仪器来源 | 国产 |
生产厂商 | 杭州中安电子有限公司 | 启用日期 | 2011-07-03 |
仪器类别 | 反偏/老炼 | 仪器原值 | 435662.16 元 |
所在部门单位 | 质量可靠性实验室 | ||
仪器负责人 | 杜磊 | 联系电话 | 010-52804252 |
地址 | 怀柔园区4号楼D0605 | 邮编 | 101400 |
dulei@nssc.ac.cn | |||
主要技术指标 | 150℃试验温度,最大64路,信号频率2Mhz,程控电源2-18V/10A | ||
包含主要附件 | 老化板 | ||
仪器主要功能 | 集成电路的高温动态老炼实验 | ||
仪器服务领域 | 元器件检测 | ||
计量认证资质 | 实验室认可 | ||
仪器现状 | 完好 | ||
收费标准 | 12元/小时 | ||
仪器图片 |