| 仪器名称 | 开尔文探针扫描系统 | 仪器型号 | 非标 |
| 仪器编号 | 16-110500-01905 | 仪器来源 | 进口 |
| 生产厂商 | SKP | 启用日期 | 2016 |
| 仪器类别 | 测量 | 仪器原值 | 684552.51 元 |
| 所在部门单位 | 空间环境探测研究室 | ||
| 仪器负责人 | 王文静 | 联系电话 | 010-62582631 |
| 地址 | 怀柔园区四号楼D0107 | 邮编 | 101407 |
| wangwenjing@nssc.ac.cn | |||
| 主要技术指标 | 1）探针直径：2mm、0.05mm切换；
2）功函数分辨率：1~3mV（2mm探针），5~10mV（0.05mm探针）； 3）扫描范围：100mm×100mm。 |
||
| 包含主要附件 | |||
| 仪器主要功能 | 用于测量导体材料的功函数或半导体、绝缘表面的表面势。 | ||
| 仪器服务领域 | 表面功函数检查 | ||
| 计量认证资质 | 实验室认可 | ||
| 仪器现状 | 完好 | ||
| 收费标准 | 356.6 元/小时 | ||
| 仪器图片 |
|
||