1. 设备全景图片

2.设备概况

品牌： 中科赛凌（北京）科技有限公司

型号：CTS-TC7046HC-AW

类型：温度冲击试验箱

用途：测量电子元器件温度耐受性能及可靠性测试。

3. 设备功能简述

温度冲击试验箱是电子元器件性能及可靠性测试的重要设备，通过在不同的温度下进行高低温温度冲击及温度循环试验，来验证电子元器件的耐温性特性。

4. 设备的技术特点

4.1三箱法：进行高温、低温和常温三温下的温度冲击试验。

4.2快温变试验：进行快温变试验，温变速率≥10℃/min（平均速率）。

4.3冷却水循环系统：温度相应速率快。

5. 设备的技术参数

5.1 尺寸及重量：提篮尺寸400*500*500（mm），内箱尺寸880*830*840（mm），外形尺寸3450*2150*1550（mm）。

5.2整机参数：

温 度 范 围：        -70℃~200℃

温度冲击范围：   -55℃~125℃

温 变 速 率：    ≥10℃/min（-55℃~85℃）

温变 波动度：    ≤±0.5℃

温变 均匀度：     ≤2℃

温 变 偏 差：     ≤±2℃

6. 设备的技术优势

该设备是三箱法设备，满足电子元件类器件国军标规定的相应温度冲击试验条件。同时，低温箱也能进行≥10℃/min的温度循环试验，满足电子元器件以及单机的环境试验要求。

7. 设备的应用行业

仪器仪表；航空航天可靠性等行业。